英國牛津Oxford CMI243涂鍍層測厚儀全網(wǎng)銷售
簡介：
CMI 243是一款靈便易用的測量儀器，專為金屬表面處理者設計，配置的單探頭可測量鐵質底材上幾乎所有金屬鍍層。在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上進行測量的能力，使這款鍍層測厚儀成為緊固件行業(yè)應用的理想工具。
CMI243是一款專門為測量磁性金屬上的（如鋅、鎳等）涂鍍層厚度而設計的便攜式膜厚儀。獨特的渦電流測試方法使測量更精確。高端配置的測量探頭對細小的零件也可以精確測量。它具有X射線熒光的測量精度，同時也避免了庫侖法對被測工件帶來的破壞。
CMI 243在設計上更加合理、可靠、實用。
產品介紹
●ECP-M探頭：鋅、鎳均可以測量
●準確度：±1%
●測量范圍：0.08-1.50mils（2-38μm）
●分辨率：0.01mils （0.25μm）
●最小測量半徑0.06英寸（1.55mm）
●適用標準：符合ASTM B244—b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168（DRAFT）, 以及BS 5411 part 3
●單位：英制和公制單位自動轉換
●統(tǒng)計數(shù)據(jù)顯示：讀取次數(shù)，平均值，標準差，最高值，最低值，最終值
●記憶儲存：12,400個數(shù)據(jù)儲存
●接口：RS-232串行端口，波特率可調，可接打印機或計算機
●顯示：液晶顯示（LCD）,字符高度1/2” （1.27cm）
●電池：9V干電池或可充電電池。
●尺寸：57/8” （L） ×31/8” （W）×13/16” （D） （14.9×7.94×3.02 cm）
●重量：9盎司/0.26kg, （包括電池重量在內）
●品牌：英國牛津儀器；
測量技術
一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式，由于探頭的"升離效應"導致的底材效應，和由于測試件形狀和結構導致的干擾，都無法達到對金屬性鍍層厚度的精確測量。而牛津儀器將最新的基于相位電渦流技術應用到CMI243鍍層測厚儀，使其達到了±3%以內（對比標準片）的準確度和0.3%以內的精確度。牛津儀器對電渦流技術的獨特應用，將底材效應最小化，使得測量精準且不受零件的幾何形狀影響。另外，鍍層測厚儀一般不需要在鐵質底材上進行校準。
便攜式、無損測量各種金屬鍍層精度高、穩(wěn)定性好測量精度可與X射線測厚儀媲美可測量各種微型部件（φ2.5mm）232接口，可連接打印機或電腦。
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