| 詳細(xì)參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 其他 | 型號(hào) | MP-5000 |
| 測量范圍 | 0-40,000A,cm | 測量精度 | 0-20,000A,cm,2,,1 |
| 電源 | 其他 | 用途 | 磁場強(qiáng)度測量 |
| 加工定制 | 否 | 外形尺寸 | 其他 |
| 重量 | 1.8kg | 產(chǎn)地 | 德國 |
一、產(chǎn)品名稱：磁場強(qiáng)度測量儀/高斯計(jì)
二、產(chǎn)品型號(hào)：MP-5000
三、制造商：德國LIST（德國李斯特）
四、儀器特點(diǎn)
傳統(tǒng)的手持式場強(qiáng)計(jì)測量磁場是非常實(shí)用的，但是當(dāng)在測量過程中要自動(dòng)化檢測時(shí)，手持式的設(shè)備就滿足不了了。如果需要測量工藝流程中的磁場，將結(jié)果直接傳遞給過程控制，并進(jìn)行即時(shí)分析，則需要具有高測量精度和集成能力的設(shè)備：那就是MP-5000。MP-5000帶有RS232/USB接口和圖形控制面板。可連接電腦。
通過界面，您可以將設(shè)備集成到您的生產(chǎn)環(huán)境中，控制測量，并使用反饋在流程中進(jìn)行決策。????????????? 使用經(jīng)過驗(yàn)證的探針，可以確保測量的穩(wěn)定重復(fù)性和高測量精度。軸向場探頭P-A2用于軸向磁場測量，適用于平面或曲面，尤其是孔內(nèi)的測量。軸向場探頭中的霍爾傳感器位于距離測量表面2.0 mm的規(guī)定測量距離處。
切向場探頭P-T2適用于間隙隙、空腔或工件表面的測量。
五、技術(shù)規(guī)格
1.測量單位Measuring
units: A / cm - kA / m - Gauss (Oe) - Tesla switchable
(1 A/cm = 0.1 kA/m = 1.256 Gauss = 1.256 Oersted = 0.1256 mT)
2.可選測頭Applicable
measuring probes:軸向測頭Axial probes P-A2, P-W2 and P-A4,
3.切向測頭Tangential
probes P-T2, P-T4, P-Z2, P-Z4 and P-T4A.
4.直流測量范圍Measuring range DC:0-40,000 A/cm
5.交流測量范圍Measuring range AC: 20-20,000 A/cm
6.精度Accuracy:,in the homogeneous field ,0-20,000 A/cm ± 2% ± 1 digit, > 20,000 A/cm ± 3% of the displayed value ± 1 digit
7.分辨率Resolution:0 - 200 A/cm: 0.1 A/cm, > 200 A/cm: 1 A/cm, > 10,000 A/cm: 10 A/cm
8.頻率范圍Frequency range AC: 10 Hz – 5 KHz
9.峰值保持Peak Hold:Impulse duration >= 0.1 msec
10.顯示Display:graphical PLC operating terminal with menu guidance, display of measured values digital or analog, and trend measurement帶菜單引導(dǎo)、數(shù)字或模擬測量值顯示和趨勢測量的圖形PLC操作終端
11.多語言Multilingual menu navigation:German / English
12.數(shù)據(jù)記錄Data logger:500次測量
13.統(tǒng)計(jì)Statistics:計(jì)數(shù)/最大/最小/平均/標(biāo)準(zhǔn)偏差Count / Maximum / Minimum / Average / Standard deviation
14.連接Interface:RS232接口，帶USB線與PC機(jī)通訊，過程控制用24伏模擬信號(hào)接口
RS232 interface with USB cable for communication with PC, 24V analog signal interface for process control
15.供電Power supply:230V
16.尺寸Dimensions:145 x 145 x 220 mm
17.重量Weight: 1.8KG
六、可選探頭
軸向測頭Axial probes P-A2, P-W2 and P-A4, 切向測頭Tangential probes P-T2, P-T4, P-Z2, P-Z4 and P-T4A.
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