新的雷尼紹TP200 CMM測頭主體，帶有兩個二手TP200測頭模塊。
TP200是使用應變儀技術的電子探針，比運動接觸觸發(fā)探針具有更高的精度。
TP200系統(tǒng)組件為：
還有一個EO模塊（擴展的超程），它具有與SF相同的超程力，但提供
擴大了探頭Z軸的工作范圍和保護范圍。
TP200探頭使用微應變儀傳感器，可提供出色的重復性和準確的3D形式
即使長測針也可以測量。傳感器技術可提供亞微米級的可重復性，并消除了
運動探針遇到的波瓣特性。探頭內(nèi)的固態(tài)ASIC電子設備
TP200B使用與TP200相同的技術
設計用于具有更高的振動承受能力。這有助于克服“空氣”觸發(fā)的問題
可能是由于通過三坐標測量機傳播的振動或使用長測針且速度更快而產(chǎn)生的
定位速度。請注意，我們不建議將TP200B與LF模塊一起使用或
搖動/星形測針。
| 摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
|
主要申請 |
需要高精度的DCC CMM。 | 作為TP200，但發(fā)生“空中”觸發(fā)事件。 |
|
感官方向 |
6軸：±X，±Y，±Z | 6軸：±X，±Y，±Z |
|
單向重復性（2s μm） |
觸發(fā)電平1：0.40 μm（0.000016 in） 觸發(fā)電平2：0.50 μm（0.00002 in） |
觸發(fā)電平1：0.40 μm（0.000016 in） 觸發(fā)電平2：0.50 μm（0.00002 in） |
|
XY（2D）形狀測量偏差 |
觸發(fā)電平1：±0.80 μm（0.000032 in） 觸發(fā)電平2：±0.90 μm（0.000036 in） |
觸發(fā)電平1：±1 μm（0.00004 in） 觸發(fā)電平2：±1.2 μm（0.000047 in） |
|
XYZ（3D）形狀測量偏差 |
觸發(fā)電平1：±1微米（0.00004英寸） 觸發(fā)電平2：±1.40微米（0.000056英寸） |
觸發(fā)電平1：±2.50 μm（0.0001 in） 觸發(fā)電平2：±4 μm（0.00016 in） |
| 測針變化的可重復性 |
使用SCR200：可達到±0.50 μm（0.00002 in）。 手動：可達到±1 μm（0.00004 in） |
使用SCR200：可達到±0.50 μm（0.00002 in）。 手動：可達到±1 μm（0.00004 in） |
| 觸發(fā)力（在筆尖處） |
XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
| 超程力（@ 0.50毫米位移） |
XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N |
XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N |
| 重量（探頭傳感器和模塊） | 22克（0.78盎司） | 22克（0.78盎司） |
| 延伸量可達到（如果在PH10系列機頭上） | 300毫米（11.81英寸） | 300毫米（11.81英寸） |
| 推薦的測針長度（M2測針范圍） |
SF / EO模塊：50毫米（1.97英寸）鋼至100毫米（3.94英寸）GF
LF模塊：20毫米（0.79英寸）鋼至50毫米（1.97英寸）GF |
SF / EO模塊：50毫米（1.97英寸）鋼至100毫米（3.94英寸）GF
LF模塊：20毫米（0.79英寸）鋼至50毫米（1.97英寸）GF |