Wafer晶圓表面顆粒缺陷檢查燈 黃綠光表面檢查燈 高照度晶圓LED檢查燈
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），檢測(cè)燈的原理利用適合的LED燈源，通過光學(xué)鏡片折射出特殊波長(zhǎng)的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識(shí)別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點(diǎn)，取代傳統(tǒng)的照明設(shè)備和光學(xué)系統(tǒng)機(jī)臺(tái)，直接通過照明光線和肉眼，觀測(cè)出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購(gòu)成本。 黃綠光檢查燈采用人眼最敏感510-590NM之間波長(zhǎng)光，來做最簡(jiǎn)單與明確的判別，可精確檢查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有綠光和黃光2種顏色的復(fù)合光，幾乎可檢測(cè)出所有塵埃，大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬小時(shí)以上。光源強(qiáng)度可達(dá)15萬LX，最小可以檢測(cè)1μ的表面臟污，比傳統(tǒng)的檢查燈，效用增強(qiáng)10倍.。
wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈參數(shù)規(guī)格
高照度晶圓LED檢查燈；晶圓顆粒缺陷檢查燈；Wafer表面檢查燈
光 源：20W 高亮度進(jìn)口LED加定制的光學(xué)鏡片； LED平均壽命是30000小時(shí)
照度：距離40cm → 9萬lx；距離30cm → 15萬 lx（我們掌握了核心技術(shù)，我們可以提供不同照度的平行燈，它們可滿足不同客戶的要求）
照射面積： 8-16cm直徑的光圈 在40cm的距離（通過調(diào)焦距調(diào)光）
調(diào)光方式： 無極調(diào)光：從0% ~ 100%；消耗功率：20 W
電源：采用110-220V電源供電（交流供電），可以24小時(shí)持續(xù)無間斷工作。
平行光強(qiáng)的穩(wěn)定性： > 90 ％